Sistema de detección microscópica ultrasónica de alta frecuencia

Se puede aplicar a la detección de defectos internos en semiconductor, detección de paquetes de chips, nuevos materiales compuestos, lámina compuesta de diamantes, materiales aeroespaciales, electrodomésticos de bajo voltaje, nueva batería de litio de energía, materiales de fibra de carbono y otros campos.

Detección de onda longitudinal/transversal

Escaneo A, b-scan, c-escan, escaneo de transmisión, exploración multicapa, escaneo de bandeja-pálido, etc.

Cumplir con los estándares de solicitud de campo de automatización relevantes, estándares nacionales, estándares internacionales

Se puede personalizar de acuerdo con los requisitos del cliente

◆ Forma de onda de registro de información completa, reproducción precisa 1: 1 de la forma de la pieza de trabajo inspeccionada y el tamaño de los defectos

◆ Con la función Zoom-In/Zoom-Out, puede mostrar claramente el estado de los bordes de defectos.

◆ Función de alisado de la capa de agua, eliminando el error de la capa de agua generado caminando hacia adelante y hacia atrás.

◆ La exploración B y D puede ver fácilmente la sección transversal de cualquier eje XY

◆ con función de nivel de color personalizado

Paso de escaneo mínimo 7um

Ancho de banda 1MHz ~ 100MHz

Ganar rango de ajuste 0 db ~ 110db

Valor de paso {{{0}}. 2, 0. 5, 1. 0, 2. 0, 6. 0 dB, 12.0db con función de filtro de paso alto y bajo

Resistencia 50Ω, 500Ω

Pulsos transmitidos onda cuadrada (voltaje de 50V a 250V, ancho de pulso de 10ns a 250ns)

Modo de detección RF, onda completa, media onda positiva, media onda negativa

Velocidad de muestreo 100MHz ~ 5GHz (ajustable a la velocidad múltiple)

Profundidad de muestreo 512-4096

Frecuencia de repetición de pulso de 20Hz a 27,500Hz, automáticamente ajustable

1, ancho de banda ancho, se puede adaptar a una variedad de escenarios de aplicación ultrasónica de mediana y alta frecuencia;

2, la frecuencia de muestreo de 5 GHz más alta, frecuencia de muestreo ajustable, restauración real de la forma de onda original;

3, el sistema tiene un (escaneo de puntos), B (escaneo longitudinal), C (escaneo transversal), escaneo de transmisión (necesita configurar la unidad de escaneo de transmisión y las opciones de sonda de recepción), escaneo múltiple, función de escaneo de pasos de bandeja;

4, con amplitud de onda, tiempo de tránsito, fase y función de imagen del modo FFT. Puede realizar la medición y el rango de espesor de la pieza de trabajo, la función de marcado del tamaño de defecto, puede contar el tamaño y el área del defecto, calcular automáticamente la relación de área de defectos;

5, modo de activación de forma de onda: pico de onda, borde de ataque, más de punto cero;

6, con función de coloración de imágenes, de acuerdo con el color automático de fase flip; De acuerdo con el nivel gris de color manual; Según el cambio de espesor, coloración automática.

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